產(chǎn)品簡介 Introduction
能芯電子開發(fā)的柜式動態(tài)可靠性測試系統(tǒng)(PSL-DHTGB/DHTRB/DH3TRBPRO)為高性能動態(tài)可靠性測試系統(tǒng),支持不同封裝形式的單管與模塊的DGS/DRB/DH3TRB實驗。
柜式動態(tài)可靠性測試系統(tǒng)(PSL-DHTGB/DHTRB/DH3TRB-PRO)的測試容量更大,可并聯(lián)支持最多240顆器件進行測試;通過搭配能芯電子自研的示波器采集系統(tǒng),可以實現(xiàn)全通道全工位的波形監(jiān)控能力;該系統(tǒng)的驅(qū)動與參數(shù)采集硬件為可插拔設(shè)計,參數(shù)設(shè)置與配件維修極其簡單;該系統(tǒng)配備有水冷散熱系統(tǒng),支持器件高頻測試,穩(wěn)定測試溫度。
柜式動態(tài)可靠性測試系統(tǒng)(PSL-DHTGB/DHTRB/DH3TRB-PRO)具有高性價比、高精度、高頻、高速、易維護等優(yōu)點,幫助客戶實現(xiàn)批量化動態(tài)可靠性測試的能力。
PSL-DHTGB-PRO
產(chǎn)品規(guī)格 Product Specifications
測試項目 | 詳情 |
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測試項目 |
DHTGB(DGS)動態(tài)柵極偏置可靠性測試 |
Vgs | 典型測試范圍:-10~22V |
頻率范圍 |
單管TO247-3L/4L: 0~500kHz
模塊 Easy1B/2B: 0~200kHz
模塊 HPD: 0~100kHz
(根據(jù)器件與安裝條件取最優(yōu)值調(diào)節(jié))
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占空比 | 10~90%(根據(jù)器件與安裝條件取最優(yōu)值調(diào)節(jié)) |
dV/dt | ≥0.3V/ns(根據(jù)器件與安裝條件取最優(yōu)值調(diào)節(jié)) |
過沖 | 0(根據(jù)器件與安裝條件取最優(yōu)值調(diào)節(jié)) |
監(jiān)控參數(shù) |
Igss,Vth,
波形(選配每工位監(jiān)控或每層監(jiān)控),
外殼溫度(選配每工位監(jiān)控),
Rdson(選配每工位監(jiān)控,動態(tài)鉗位測量)
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加熱/冷卻方式 |
風(fēng)冷鰭片,
水冷板+水冷機(選配),
加熱板(選配)
其中 風(fēng)冷鰭片的降溫效果取決于設(shè)備所處實驗環(huán)境,
水冷板的降溫效果取決于外接水冷機的冷卻水溫度,
加熱板最高溫度至200℃。
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最大容量 |
單體測試柜
單管: 16顆/層,疊加5層,共80顆;
半橋模塊(以Easy1B為例): 8個/層,疊加5層,共40個;
三相模塊(以HPD為例): 2個/層,疊加5層,共10個;
單個主機柜最多可連接3個測試柜。
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基于AQG-324標準
PSL-DHTRB-PRO
產(chǎn)品規(guī)格 Product Specifications
測試項目 | 詳情 |
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測試項目 |
DHTRB(DRB)動態(tài)反偏可靠性測試
兼容主動式與被動式
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Vds | 典型測試范圍:520~1200V |
頻率范圍 |
單管TO247-3L/4L: 0~200kHz
模塊 Easy1B/2B: 0~100kHz
模塊 HPD: 0~50kHz
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占空比 | 10~50%(根據(jù)器件與安裝條件取最優(yōu)值調(diào)節(jié)) |
dV/dt | ≥50V/ns(根據(jù)器件與安裝條件取最優(yōu)值調(diào)節(jié)) |
過沖 | 根據(jù)器件與安裝條件取最優(yōu)值調(diào)節(jié) |
監(jiān)控參數(shù) |
Idss,Vth,
波形(選配每工位監(jiān)控或每層監(jiān)控),
外殼溫度(選配每工位監(jiān)控),
Rdson(選配每工位監(jiān)控,動態(tài)鉗位測量)
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加熱/冷卻方式 |
風(fēng)冷鰭片,
水冷板+水冷機(選配),
加熱板(選配)
其中 風(fēng)冷鰭片的降溫效果取決于設(shè)備所處實驗環(huán)境,
水冷板的降溫效果取決于外接水冷機的冷卻水溫度,
加熱板最高溫度至200℃。
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最大容量 |
單體測試柜
單管: 16顆/層,疊加5層,共80顆;
半橋模塊(以Easy1B為例): 8個/層,疊加5層,共40個;
三相模塊(以HPD為例): 2個/層,疊加5層,共10個;
單個主機柜最多可連接3個測試柜。
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基于AQG-324標準
PSL-DH3TRB-PRO
產(chǎn)品規(guī)格 Product Specifications
測試項目 | 詳情 |
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測試項目 |
DH3TRB動態(tài)高溫高濕反偏可靠性測試
兼容主動式與被動式
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Vds | 典型測試范圍:300~960V |
頻率范圍 | 15~25kHz(根據(jù)器件與安裝條件取最優(yōu)值調(diào)節(jié)) |
占空比 | 10~50%(根據(jù)器件與安裝條件取最優(yōu)值調(diào)節(jié)) |
dV/dt | ≥30V/ns(根據(jù)器件與安裝條件取最優(yōu)值調(diào)節(jié)) |
過沖 | 根據(jù)器件與安裝條件取最優(yōu)值調(diào)節(jié) |
監(jiān)控參數(shù) |
Idss,Vth,
波形(選配每工位監(jiān)控或每層監(jiān)控),
外殼溫度(選配每工位監(jiān)控),
Rdson(選配每工位監(jiān)控,動態(tài)鉗位測量)
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加熱加濕方式 | 高溫高濕箱,支持85℃/85%RH的高溫高濕環(huán)境 |
最大容量 |
單體測試柜(高溫高濕箱)
單管: 16顆/層,疊加5層,共80顆;
半橋模塊(以Easy1B為例): 8個/層,疊加5層,共40個;
三相模塊(以HPD為例): 2個/層,疊加5層,共10個;
單個主機柜最多可連接3個測試柜。
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基于AQG-324標準